Karakterisering och spårning av nanopartiklar med djupinlärning

Examensarbete för kandidatexamen

Please use this identifier to cite or link to this item: https://hdl.handle.net/20.500.12380/304358
Download file(s):
File Description SizeFormat 
TIFX04-21-19, slutgiltig_kandidatrapport.pdf4.12 MBAdobe PDFView/Open
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorDarakhsh, Arash-
dc.contributor.authorJohansson, Edvin-
dc.contributor.authorNilsson, Simon-
dc.contributor.authorPersson, Sanna-
dc.contributor.authorStröm, Rickard-
dc.contributor.departmentChalmers tekniska högskola / Institutionen för fysiksv
dc.date.accessioned2021-11-15T07:08:37Z-
dc.date.available2021-11-15T07:08:37Z-
dc.date.issued2021sv
dc.date.submitted2020-
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/20.500.12380/304358-
dc.description.abstractFöreliggande arbete använder maskininlärningsmetoden YOLOv3 för att utveckla en metod för spårning och karakterisering av partiklar som görs tillgängligt för allmänheten. Modellen presterar bättre än traditionella algoritmiska metoder för partikeligenkänning och lokalisering av partiklar men något sämre för karakterisering och bestämmande av partiklars egenskaper jämfört med traditionella algoritmer. Modellen har dessutom visat resultat i linje med tidigare djupinlärningsmetoder. Dessa resultat ges också utan samma krav på användaren för detaljstyrning av processen. Modellen har vidare möjlighet att förbättras över tid genom att iterativt tränas på större mängder data vilket ger möjligheter för framtida utveckling. Träningen av modellen utfördes med simulerade holografiska mikroskopbilder som genererades med python-biblioteket DeepTrack. Från biblioteket användes funktioner för att simulera bilder från en off-axis-konfiguration. Parametrar för partiklars x-, y-, z-positioner, brytningsindex, radie samt antal partiklar per bild tillskrevs slumpmässiga värden i lämpliga intervall representativa för en experimentuppställning. Modellen testades efter träningen på både simulerade och experimentella bilder. Tester på den simulerade datan bestod av 5000 bilder med 448x448 pixlar med 0-10 partiklar i varje bild. Modellens resultat visar på en recall på 0,96 samt en precision på 0,87 vilket ger ett F1- score på 0,91. Modellen jämfördes även med traditionella algoritmer för partikelspårning. Tydliga fördelar med djupinlärning motiveras genom bättre hantering av flera partiklar, överlappande partiklar samt olika brusförhållanden. Vår modell visar också på möjligheten att förutsäga partiklars brytningsindex och radie med en end-to-end-metod. Kod och modellvikter finns tillgängliga här: https://github.com/Deep-learning-for-particl e-tracking/YOLOv3-for-Particle-Tracking.sv
dc.language.isoengsv
dc.setspec.uppsokPhysicsChemistryMaths-
dc.titleKarakterisering och spårning av nanopartiklar med djupinlärningsv
dc.type.degreeExamensarbete för kandidatexamensv
dc.type.uppsokM2-
dc.contributor.examinerFalk, Lena-
dc.contributor.supervisorMidtvedt, Benjamin-
dc.contributor.supervisorMidtvedt, Daniel-
dc.identifier.coursecodeTIFX04sv
Collection:Examensarbeten för kandidatexamen // Bachelor Theses



Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.