Determining the concentraton of Mn in (Ga,Mn)As by means of X-ray Photoelectron Spectroscopy

Examensarbete för masterexamen

Använd denna länk för att citera eller länka till detta dokument: https://hdl.handle.net/20.500.12380/205894
Ladda ner:
Det finns inga filer.
Bibliografiska detaljer
FältVärde
Typ: Examensarbete för masterexamen
Master Thesis
Titel: Determining the concentraton of Mn in (Ga,Mn)As by means of X-ray Photoelectron Spectroscopy
Författare: Orhe, Aruviere
Sammanfattning: This thesis work investigates the ability of x-ray photoelectron spectroscopy (XPS) to assess the Mn concentration in the Ga1-xMnxAs. For this purpose measurements were the performed on samples with different nominal Mn concentrations in the range 0.5-5%. The samples were sputtered with argon ions to remove surface oxide and carbon contamination, and to record the depth distribution of Mn. The results show that the method can be used for the estimation of the Mn concentration provided that the (XPS) sensitivity factors used are accurate, a correct background is used and that the spectra are recorded with good statistics.
Nyckelord: Fysik;Den kondenserade materiens fysik;Halvledarfysik;Materialvetenskap;Physical Sciences;Condensed Matter Physics;Semiconductor physics;Materials Science
Utgivningsdatum: 2014
Utgivare: Chalmers tekniska högskola / Institutionen för teknisk fysik
Chalmers University of Technology / Department of Applied Physics
URI: https://hdl.handle.net/20.500.12380/205894
Samling:Examensarbeten för masterexamen // Master Theses



Materialet i Chalmers öppna arkiv är upphovsrättsligt skyddat och får ej användas i kommersiellt syfte!