Electrical Characterization of GaN:Si and AlGaN:Si

Visa enkel post
dc.contributor.authorYe, Hong
dc.contributor.departmentChalmers tekniska högskola / Institutionen för mikroteknologi och nanovetenskapsv
dc.contributor.departmentChalmers University of Technology / Department of Microtechnology and Nanoscienceen
dc.date.accessioned2019-07-03T12:46:19Z
dc.date.available2019-07-03T12:46:19Z
dc.date.issued2011
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/20.500.12380/154356
dc.language.isoeng
dc.setspec.uppsokPhysicsChemistryMaths
dc.subjectMaterialvetenskap
dc.subjectNanovetenskap och nanoteknik
dc.subjectElektroteknik och elektronik
dc.subjectMaterials Science
dc.subjectNanoscience & Nanotechnology
dc.subjectElectrical Engineering, Electronic Engineering, Information Engineering
dc.titleElectrical Characterization of GaN:Si and AlGaN:Si
dc.type.degreeExamensarbete för masterexamensv
dc.type.degreeMaster Thesisen
dc.type.uppsokH
Ladda ner
Original bundle
Visar 1 - 1 av 1
Bild (thumbnail)
Namn:
154356.pdf
Storlek:
2.43 MB
Format:
Adobe Portable Document Format
Beskrivning:
Fulltext
Ladda ner
Samling
Examensarbeten för masterexamen