Direct Current Leakage in CNF-MIM Capacitors with High-k Dielectric and TiN Electrode

Visa enkel post
dc.contributor.authorBergman, Hanna
dc.contributor.departmentChalmers tekniska högskola / Institutionen för rymd-, geo- och miljövetenskapsv
dc.contributor.departmentChalmers University of Technology / Department of Space, Earth and Environmenten
dc.contributor.examinerHeikkilä, Arto
dc.contributor.supervisorHeikkilä, Arto
dc.date.accessioned2025-09-30T09:36:02Z
dc.date.issued2025
dc.date.submitted
dc.identifier.coursecodeSEEX20
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/20.500.12380/310564
dc.language.isoeng
dc.setspec.uppsokLifeEarthScience
dc.titleDirect Current Leakage in CNF-MIM Capacitors with High-k Dielectric and TiN Electrode
dc.type.degreeExamensarbete på grundnivåsv
dc.type.uppsokM
local.programmeElektroteknik 180 hp (högskoleingenjör)

Ladda ner

Original bundle

Visar 1 - 1 av 1
Bild (thumbnail)
Namn:
Direct Current Leakage in CNF-MIM Capacitors with High-k Dielectric and TiN Electrode_slutversion.pdf
Storlek:
2.16 MB
Format:
Adobe Portable Document Format
Ladda ner

License bundle

Visar 1 - 1 av 1
Bild (thumbnail)
Namn:
license.txt
Storlek:
2.35 KB
Format:
Item-specific license agreed upon to submission
Beskrivning:
Ladda ner

Samlingar

Examensarbeten på grundnivå